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COMPASS 200-便攜式XRF熒光光譜儀
COMPASS 200-便攜式XRF熒光光譜儀-移動實驗室測試平臺-土壤重金屬檢測儀實現了快速、準確分析土壤中的有害金屬元素Pb(鉛),As(砷),Cd(鎘),Hg(汞),Cu(銅),Ni(鎳),Zn(鋅),Cr(鉻)等,能夠實時現場對廠區、礦區、重工業區周邊的環境進行監測,從而進行控制排放和污染治理。
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EDX-9000B PLUS能量色散X熒光光譜儀
EDX-9000B PLUS能量色散X熒光光譜儀采礦作業(勘探、開采、品位控制),工業礦物,生產水泥和建筑材料的原材料,耐火材料,陶瓷和玻璃,地球化學學術研究,考古等。EDX9000B plus的線性動態范圍,可實現在水泥、礦物、采礦、金屬、玻璃和陶瓷行業進行高精度的過程控制和質量控制。具有全新真空光路系統和高分辨率技術的新一代Fast SDD檢測器,對輕、中、重元素。
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EDX-9000B XRF 能量色散X熒光光譜儀
EDX-9000B XRF 能量色散X熒光光譜儀作為一款高性能的臺式能量色散X射線熒光(EDXRF)元素分析儀,新款EDX9000B配置了的基于Windows基本參數算法的FP(Fundamental parameter)軟件,同時配備了高性能硬件,來滿足客戶對于復雜礦石樣品的元素分析需求。無論客戶的樣品是是固體,合金,粉末,液體或者漿液,EDX9000B都可以輕松實現從鈉(Na)到鈾(U)
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COMPASS 300-便攜式XRF熒光光譜儀
COMPASS 300-便攜式XRF熒光光譜儀一直在努力提高勘探的成功率、鎖定高質量的礦藏、提高生產力和利潤。X 射線熒光光譜儀 (XRF) 是安全、具有經濟效益且高度可靠的方法。過去的采礦勘探方法需要廣泛的地質樣品勘探并將其收集到袋子中,然后帶到實驗室以確定礦物質含量。實驗室分析通常需要2-4周的時間才能獲得結果。在現場進行實時分析,并鏈接到GPS位置,幫助客戶快速的獲取可靠檢測結果。
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COMPASS 4294 PLUS 便攜式油品硫氯分析XRF熒光光譜儀
COMPASS 4294 PLUS-便攜式油品硫氯分析XRF熒光光譜儀提供了新的在現場測量石油產品中的硫和氯分析方法,濃度范圍從2 ppm到10%不等。為了提高檢測靈敏度,4294 plus使用了具有Peltier冷卻功能的高分辨率大面積快速硅漂移檢測器(FSDD)檢測器。 FSDD檢測器的光譜分辨率(FWHM)小于130eV(MnKα),輸入計數率可高達500,000 cps。
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COMPASS 4294-移動XRF測硫光譜儀
COMPASS 4294-移動XRF測硫光譜儀 使用Compass4294-XRF輕松實現對油品中硫元素的無損檢測 便攜一體化設計滿足苛刻的現場測試要求 一鍵啟動和一鍵測試 輕松完成對以下標準的油品質量控制 ?GB/T 17040-2008 GB/T 17411-2015 ?ASTM D4294 ?ISO 20847 ISO 8754
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Compass 500 便攜式合金成分測試光譜儀
Compass 500 便攜式合金成分測試光譜儀 可對多種樣品形態進行元素成分分析,包括固體,液體,粉末,合金和薄膜 便攜而堅固的設計,一機多用 可覆蓋元素周期表Mg鎂到U鈾 樣品基體自動匹配,可對多達30種元素同時分析 SDD檢測器,具有高計數范圍和的能量分辨率 可切換準直器和濾光片
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EDX-9000A XRF合金檢測儀
EDX9000A結合了新的樣品激發和信號檢測技術,使得它的分析性能可以與實驗室分析結果相。通過配備不同濾光片和光路準直器,高功率X射線管,以及美國Amptek的SDD硅漂移檢測器,EDX9000A實現了優化的硬件組合。 選擇金屬合金分析儀時,客戶通常會重點關注測試準確性,分析速度和設備耐用性,而EDX9000A是對上述三點指標的體現。同時,該光譜儀能同時對多種不同類型的合金進行快速。
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EDX-9900 plus XRF Spectro 真空型X熒光古董分析儀
美國AmpTek -SDD探測器, 高分辨率高計數率 真空測試環境提供優輕元素檢測效果 寬元素分析范圍,涵蓋11Na to 92 大型抽真空樣品腔,滿足不同大小、器形的陶瓷樣品無損檢測 大功率真空泵,縮短測量時間,極大提高檢測效率 多濾光片自動切換,提高微量元素檢出限 多準直孔,可測試不同大小樣品點位 內置高清攝像頭
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膜厚儀EDX-8000B型XRF鍍層測厚儀
膜厚儀EDX8000B應用場景 EDX8000B鍍層測厚儀可以用于PCB鍍層厚度測量,PCB鍍層分析,金屬電鍍鍍層分析; 測量的對象包括鍍層、敷層、貼層、涂層、化學生成膜等 可測量離子鍍、電鍍、蒸鍍、等各種金屬鍍層的厚度 鍍鉻,例如帶有裝飾性鍍鉻飾面的塑料制品 鋼上鋅等防腐涂層 電路板和柔性PCB上的涂層 插頭和電觸點的接觸面 電鍍液分析 貴金屬鍍層,如金基上的
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EDX-8000 Max SDD貴金屬珠寶檢測儀
EDX-8000 MaxSDD貴金屬珠寶檢測儀隨著貴金屬價格的每日變化,測試中的微小誤差會嚴重影響您的利潤。鍍金和物品只是珠寶商, 交易商和當鋪所有者每天面臨的一些挑戰。企業需要準確的結果來消除確定項目價值的可變性和主觀性,以確保交易可獲利。不僅配備了市面上SDD檢測器,而且超大樣品腔也能滿足各種大尺寸樣品測試,而無需分解或者破壞樣品。8000Max的特點使其成為 及珠寶檢測的選擇。
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EDX-6000D 能量色散X熒光測金儀
考慮到當前 的高價值,對 的純度的控制比以往任何時候都更為關鍵。無論您是購買 ,出售或生產珠寶,制造金屬還是回收廢金屬,都需要一種快速而可信賴方法來確定樣品含金量,以進行質量控制和定價。 EDX6000D結合目前XRF能量色散光譜技術和FP(基本參數法)軟件,為用戶提供了一種高效,準確的分析方法。
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EDX280D 正比計數盒-能量色散X熒光測金儀
EDX280D 正比計數盒-能量色散X熒光測金儀進行 K值鑒定 XRF是一種快速無損的工具,用于地分析貴金屬材料成分??紤]到當前 的高價值,準確測試其純度比以往任何時候都更為重要。EDX280D是一種易于使用且具有成本效益的方法,可用于獲得 化學成分和K值分類。280D貴金屬分析儀使用高效的正比計數器,價格定位合理,全新的FP基本參數法軟件。更人性化,便捷的操作,*貴金屬分析測試
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Compass 900便攜式測金儀
產品特點: 非常適合分析珠寶和貴重金屬,因為它不會刮傷或損壞被測物品,也不會造成材料損失 比起火試金法更快,可測量元素更多,能同時分析多達三十種金屬元素 同時測量所有元素,包括貴金屬和雜質。軟件自動識別樣品材質并切換到合適的標定曲線 Compass 900設計緊湊,可移動,且占用空間小 可選小準直器進行分析;能夠自動在1mm,2mm和3mm直徑的準直器之間切換。微光斑技術可
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EDX-6000 貴金屬珠寶檢測儀
EDX-6000 貴金屬珠寶檢測儀---能量色散XRF 并不是所有閃閃發光的都是 ,如果您想確切知道其中包含的 量,可以依靠我們的X射線熒光(XRF)光譜儀:EDX6000,您可以快速檢查珠寶的真實性并分析貴金屬和其他雜質金屬的含量–而且不同于火試金測量法,我們的設備對樣品是無損地。 全新設計的EDX6000光譜儀,使用了垂直光路的設計,有效提高了非平面樣品(比如戒指)的定位和測試精度。